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Desde el 14 de diciembre hasta el 15 de diciembre
Invitacion al Webinar de Keysight Technologies: Medidas Avanzadas de Impedancia y Materiales hasta THz. 14 y 15 de diciembre
Seminario compuesto de dos partes. En la primera, Medida de Impedancia Compleja, veremos la caracterización de la impedancia compleja de los materiales, abordando los fundamentos de medida y diferentes métodos que nos permiten obtener información crítica de los materiales bajo prueba. Se profundizará sobre varias técnicas de medida (bridge method, resonant method,I-V method, RF I-V method, network anlysis method, auto-balancing bridge method) así como sus principales diferencias y cuando aplicar cada método.
En la segunda parte, Caracterización Electromagnética de Materiales, partiremos de los fundamentos explicados en la primera parte y avanzaremos explorando diferentes tecnologías que nos permiten obtener la permitividad y la permeabilidad complejas de los materiales bajo prueba desde DC hasta THz.